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高低溫試驗(yàn)箱

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>>高低溫試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)
高低溫試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)

時(shí)間:2012/1/30
 
    高低溫試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)有:GB/T2423.1-2008  GB/T2423.2-2008等標(biāo)準(zhǔn),也可根據(jù)客戶的要求非標(biāo)定做。
    GB/T2423.1-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
    GB/T2423.1-2008適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ab和試驗(yàn)Ad與早期版無實(shí)質(zhì)性的差異,增加試驗(yàn)Ae的目的主要是檢測(cè)那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。
    本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用,運(yùn)輸或貯存的能力。
    本低溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力,在這種情況下,應(yīng)采用GB/T2423.22。
    本低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種:
    —非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):
    試驗(yàn)Ab,溫度漸變。
    —散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):
    試驗(yàn)Ad,溫度漸變。
    試驗(yàn)Ae,溫度漸變,試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。
    本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。
    GB/T2423.1-2008電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
    GB/T2423.2-2008適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Bb和試驗(yàn)Bd與早期版無實(shí)質(zhì)性的差異。
    本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用,運(yùn)輸或貯存的能力。
    本低溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力,在這種情況下,應(yīng)采用GB/T2423.22。
    本低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種:
    —非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):
    試驗(yàn)Bb,溫度漸變。
    —散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):
    試驗(yàn)Bd,溫度漸變。
    試驗(yàn)Be,溫度漸變,試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。
    本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。
 
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